首頁 服務項目 CCD 視覺系統 條列顯示 | 圖片顯示 資料載入中，請稍後...... 檢測對位系統 為了預警Wafer在異常情況下(破片/異物/鍍膜偏移 等)，仍繼續作業流程，導致良率降低、浪費成本，檢測系統自動檢測Wafer是否發生異常，若異常立即停止作業並發警報 , 自動拍照儲存異常位置，以利查明原因達到最有效率的生產流程並降低損失。 CCD辨色系統 為了預警Wafer背面鍍膜顏色異常情況下，仍繼續作業流程，導致良率降低、浪費成本，晶背辨色系統自動檢測Wafer背面鍍膜顏色異常，發生Wafer背面鍍膜顏色異常時立即停止作業並自動拍照儲存破片位置，以利查明原因達到最有效率的生產流程並降低損失。 CCD測距/角度系統 說明:為了將製造的彎針打彎後檢測偏擺和角度，以利驗證是否達到出貨的生產品質，增加良率降低成本浪費損失
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